摘 要：本文詳細解讀了IEC 68 2 5：1975 標(biāo)準(zhǔn) ；介紹了材料耐候性 老化測試原理 ，包括 戶外老化及氙燈加 速老化測試原理 ，從光譜的定義、光強的設(shè)定、溫度及濕度控制等幾個方面對 IEC68-2-5：1975標(biāo)準(zhǔn)進行分析。最后指出該標(biāo) 準(zhǔn)的技術(shù)局 限性及建議如何執(zhí)行該標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)鍵詞：IE C 68-2-5；戶外老化；Q -Sun 氙燈試驗箱；老化測試；G B／T 2423-24 ；G B ／T 2424-14；GB／T 5170-901E C68-2-5 ：1975 標(biāo)準(zhǔn)背景及其廣泛性IEC 68—2—5 ：1975{實驗方法SA地面太陽輻射模擬》是 國際電工 委員會 的一個環(huán)境測試 實驗方法。
目前有很多電子行業(yè)在引用這個標(biāo)準(zhǔn) ，對材料或產(chǎn)品進行耐候老化測試 ，其中包括空調(diào)、洗衣機 、電腦、電視、手機、耳機 、廚衛(wèi) 電器、太陽能等電工電子產(chǎn)品。
很多廣泛使用的國標(biāo)也引用了該標(biāo)準(zhǔn)，如 G B ／T 2423．24—1995{電工 電子產(chǎn) 品環(huán)境實驗 第 2 部分 ：實驗方法 實驗 SA：模擬地 面上 的太 陽輻 射》，GB／T 2424．14—1995{電工電子產(chǎn) 品環(huán)境實驗 第 2部分：實驗方法 太 陽輻射實驗導(dǎo)則 》，G B／T 5170．9—1996{電工電子產(chǎn)品環(huán)境實驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 太陽輻射實驗設(shè)備 》等。
該標(biāo)準(zhǔn)廣泛用于電子電工產(chǎn)品的耐候性測試 ，主要利用氙燈光源 ，來加速模擬材料和產(chǎn)品在大氣環(huán)境下 ，因光照等因素的作用而產(chǎn)生的破壞;在解讀該標(biāo)準(zhǔn)之前，有必要了解大氣環(huán)境如何對材料和電子電工產(chǎn)品產(chǎn)生破壞的。